mgr inż. Tomasz Karpisz
Novel Methods for Characterization of Dielectric Materials at Microwave and Millimeter-wave Frequencies
dr hab. inż. Bartłomiej Salski, prof. uczelni, Politechnika Warszawska
Obrona doktorska
21.09.2020 10:00
https://youtu.be/K5m2FjiLUKs (zapasowe #1)
Pobierz plik (pdf, 4,57 MB)