mgr inż. Grzegorz Wielgoszewski
Metrologia właściwości termicznych mikro- i nanostruktur prowadzona metodami skaningowej mikroskopii termicznej bliskiego pola
prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk, Politechnika Wrocławska
Obrona doktorska
15.07.2014 11:30
Politechnika Wrocławska
Pobierz plik (pdf, 53,72 kB)