mgr inż. Grzegorz Wielgoszewski

Metrologia właściwości termicznych mikro- i nanostruktur prowadzona metodami skaningowej mikroskopii termicznej bliskiego pola
prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk, Politechnika Wrocławska
Obrona doktorska
15.07.2014 11:30
Politechnika Wrocławska
Pobierz plik (pdf, 53,72 kB)
Powered by eZ Publish™ CMS Open Source Web Content Management. Copyright © 1999-2012 eZ Systems AS (except where otherwise noted). All rights reserved.