mgr inż. Krzysztof Piskorski

Opracowanie fotoelektrycznych metod okreslania rozkładów lokalnych wartości parametrów elektrycznych struktur MOS w płaszczyźnie powierzchni bramki
dr hab. inż. Henryk Przewłocki, Instytut Technologii Elektronowej
Obrona doktorska
18.03.2016 11:00
Instytut Technologii Elektronowej
Pobierz plik (pdf, 447,10 kB)
Powered by eZ Publish™ CMS Open Source Web Content Management. Copyright © 1999-2012 eZ Systems AS (except where otherwise noted). All rights reserved.